ILT 5000 SED005WBS320W紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測量系統(tǒng)

紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測量系統(tǒng)的研究

光學分析的10多個進制單位的動態(tài)范圍

Pico-ammeter：10fA至1mA（從100fA至1mA校準）

無線通信：內置

用戶控制或自動：范圍、規(guī)零/暗零、采樣率

4-20 mA輸出

15針D Sub和SMA輸入端口

“Set it & Forget It”遠程數據記錄

電源：USB或內置充電電池組

多系統(tǒng)同時連續(xù)監(jiān)測

包括DataLight II軟件和Labview采樣代碼

NIST可追溯/ISO17025認證校準

采樣率高達100 Hz，可編程

ILT 5000 SED005WBS320W紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測量系統(tǒng)描述：

紫外敏感危害探測器設計為在250至400 nm的寬紫外波段上具有高靈敏度，用于紫外敏感危害研究

測量

測量范圍：2.33e-8至2.33e+0 W/cm2

光譜范圍：250–400 nm

配置：ILT5000*，SED005/WBS320/W（探頭）

*包括軟件

應用：該檢測器經過特殊配置，可準確測量穿過UV波段的寬波部分，用于總UV靈敏度危險監(jiān)測。

濾光片和輸入光學元件是可拆卸的，可以與探測器組件分開購買，以允許濾光片和輸入光學元件互換。

注：配置中不含圖片中的平板電腦。